磁共振、磁共振成象、测量装置、监视装置及生产工艺技术
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磁共振、磁共振成象、测量装置、监视装置及生产工艺技术
作者:技术顾问    电子机械来源:百创科技    点击数:    更新时间:2021/3/25
0008-0001、 非水电解液二次电池的状态检测方法
摘要、 本发明提供一种非水电解液二次电池的状态检测方法通过简单试验,能够方便高精度地检测非水电解液二次电池的劣化程度及剩余容量而与过去充放电经历无关。该方法对电池进行恒流充、放电,根据此时的电压值或以其为变量的关系式,定量判定电池的劣化程度。
0074-0002、 实现快速均方根测量的均方根转换器
摘要、 提供对50Hz或60Hz频率的电力线信号实现快速rms测量的rms(均方根)转换器。到达rms转换器的电力线频率信号的数字样值被平方并且在平均电路中求和。在每个rms测量周期结束时,平均值被送到平方根电路来计算rms值。已经把测量周期选为50ms,以便跨越50Hz和60Hz频率的平方后的电力线信号的最小整数个周期,对于60Hz频率,跨越六个周期,而对于50Hz频率则跨越五个周期,以便以每秒20个rms值的最大速率提供快速rms测量。
0210-0003、 直流输电线路绝缘子串电压分布测量仪
本发明是一种直流输电线路绝缘子串电压分布测量仪,采用静电感应原理特殊设计的振动式取样探头,驱动线圈通电后产生交变的电磁吸引力,使驱动合金片带动取信号电极振片向下运动,永磁或弹簧产生反作用力使振片向上运动,如此产生振片的周期振荡,通过静电耦合将待测直流高压信号变成交流信号,经电路处理后,在低压端显示出高电压值。测量时去除绝缘杆,采用超声波传递绝缘子电压信号,测量精确,操作简单。
0064-0004、 同时具备指针和数字显示的万用表
摘要、 本发明涉及一种同时具备指针和数字显示读数的新颖万用表,在读数屏上同时设置有指针式显示器和数字式显示器,在电气电路中,除设置在输入开关网络及变换器、模拟/数字转换器和数字式显示器外,还设置有数字/模拟转换器和指针式显示器,工作时能同时以指针方式和数字方式显示电气测量值,集中具有指针式和数字式万用表的各自优点,能满足各种场合的不同使用需求。
0144-0005、 自动调零的电流检测元件
摘要、 一个检测载流导体中交变电流的电流传感器,包括第一和第二端和之间的C形磁芯。电流检测元件包括微型共振元件,其紧贴近磁芯的第一和第二端之间的缝隙,当该元件暴露在交变磁场时共振。偏置线圈附到微型共振元件。当偏置线圈没有电流时,微型共振元件以标准频率共振或振动,当偏置线圈和载流导体有电流时微型共振元件以修正振荡频率振荡。比率f/f,0,和偏置电流的乘积确定载流导体的电流幅度。
0178-0006、 一种磁光克尔仪及其设计方法
摘要、 已有的磁光克尔效应的测量设计方法均采用单只探测器,只能对材料的单区域进行单次测量。如要对材料的微区进行高密度的数据扫描测量,则测量的效率较低,不易实用。本发明采用了具有一定像素范围数目的CCD探测器,通过旋转检偏器,在不同检偏角位置连续获得完整的CCD信号,并通过快速富利埃分析,不仅可获得宏区的克尔效应,而且可获得高分辨率的微区分布的克尔效应,形成凝视式磁光克尔图象。采用本发明制造的凝视式磁光克尔仪,可提高效率5千至5万倍,并快速、准确获得各种磁结构。
0133-0007、 仪表开启检测装置
摘要、 一种仪表开启检测装置仪表包括第一和第二结构元件,当仪表关闭时,它们彼此相对处于一个给定位置该装置的特征在于:一个移动件,设置成随着所述结构件之一相对于所述结构件之另一个的位移而处于一稳态或一非稳态;保持构件,保持所述移动件处于其非稳态以及能够使之变到稳态;检测构件,能确定移动件的状态,并且当移动件处于一预定状态时发出一打开信号。
0048-0008、 测试集成电路器件的设备和方法
摘要、 一种用于测试集成电路器件(12)的测试设备(10)及其相关方法。测试设备(10)能测试具有大量的由单端终端(16)或差分终端(20、22)形成的输入和输出终端的集成电路器件(12)。在集成电路器件(12)上可进行静态测试,即功能和参数两种测试。此外,通过操作测试设备(10),即使集成电路器件在高频下操作,也能动态测试集成电路器件(12)。借助于信号轨线(54、56、58)把测试信号加到接受测试的器件(12)上。耦合一个测试信号响应指示器(78)以观测对测试信号的响应。
0029-0009、 半导体器件测试仪器和用于该测试仪器的测试盘
摘要、 一种IC测试器,能够减少完成对所有要测试的IC的测试需要的时间。恒温室(4)和退出室(5)的深度(在Y轴方向的长度),扩充了大致对应于矩形测试盘(3)的横边的长度(短边的长度),在从恒温室(4)中的保温室(41)经恒温室(4)中的测试部分(42)伸展到退出室(5)的通道的部分中,提供了两条基本平行的测试盘输送通道或者加宽的测试盘输送通道,能够沿着两条输送通道或加宽的测试盘输送通道同时输送两个测试盘,这两个测试盘在横过两条平行的测试盘输送通道的方向上并列安排。
0032-0010、 用于确定电池组温度和标识的装置
摘要、 一种电池监视系统,确定电池组温度和电池组标识。电池组包括电池组电路,具有热敏电阻器和AC电路元件。电池监视系统通过测量电池组电路为稳态下热敏电阻器的电阻确定电池组温度,并根据电池组电路的变化的或动态的电气条件确定AC元件值。在一实施例中,为确定电池组标识,标识电容器在电路中与热敏电阻器连接。当标识电容器已充电,比较器的一端转换为低参考电位,其输出给出电容器的放电速率的指示,由此给出其标识。
0148-0011、 接线柱的雄端子检查夹具
0168-0012、 模拟磁卡电度表
0105-0013、 在集成电路检测中识别接触错误的装置
076-0014、 电能表防潜片
0106-0015、 测量电导线电容的装置
014-0016、 半导体器件的电路校验方法
127-0017、 磁共振成象方法和装置
067-0018、 多阶半微分交流示波计时电位仪
0135-0019、 操作损耗减小的半导体器件测试系统
0152-0020、 直流电机电枢绕组绝缘检测和接地保护方法
163-0021、 控制电阻点焊质量的装置及其方法
124-0022、 蓄电池的满充电检测方法和使用它的满充电检测装置
012-0023、 串联磁光场传感器
0136-0024、 半导体器件
0045-0025、 直流电机故障专家诊断方法
198-0026、 等效电路的测量方法
181-0027、 智能电度表永久参数设置器
0129-0028、 估计视频序列中的噪声量的方法
216-0029、 电池试验和分类
0176-0030、 可自动产生并发送集成电路测试条件的系统与方法
137-0031、 据分批式结晶器装置的电导计设定输入的显示及运转方法
195-0032、 抵消电磁信号测量中外界周期性干扰的方法
021-0033、 电池测试装置
166-0034、 探针位置可以调节的对印刷电路进行电气测试的机器
0164-0035、 用于测量电信号均方值的方法和装置
108-0036、 地址解码电路与地址解码的方法
053-0037、 半导体集成电路测试装置
170-0038、 电流表钳子的开启机构
0042-0039、 电池剩余容量测量装置
093-0040、 用磁阻效应传感器件测量外部磁场方向的传感装置
156-0041、 人体阻抗测定用电极手柄
0078-0042、 测定半导体器件用的电路板
151-0043、 有多个输出入接口的网路通讯产品的检测装置及检测方法
089-0044、 电流检测电路
0107-0045、 高压计量防窃供电方法及防窃供电计量器
0218-0046、 减小快速自旋回波MR图像中麦克斯韦项后生物的方法
171-0047、 采用干扰源与受干扰信号比较来抵消干扰的电子测量方法
157-0048、 测量受力电线中电流的测量装置
125-0049、 锑-铟系化合物半导体磁阻式电流传感器及电流传感方法
208-0050、 星用辐射效应探测器
0197-0051、 包括蓄电池的电气装置和检测蓄电池断开的方法
069-0052、 使用方便的接触装置
162-0053、 短时间完成晶片测试的晶片测试的方法
047-0054、 消除电力设备二次回路计量误差的方法
071-0055、 可配置的电量表
0055-0056、 采用JTAG标准的高阻抗测试模式
0101-0057、 用于产生表征三相输电线路上出现三极短路信号的方法
116-0058、 半导体器件测试座和使用该座的半导体器件制造方法
186-0059、 谐振结构阻抗的测量装置
051-0060、 导电接触单元系统
0058-0061、 电子元件检验的方法
096-0062、 斩波型电压比较电路及电压比较方法
140-0063、 具有最大显示更新速率和最大显示带宽的仪器
0115-0064、 组合式半导体可靠性测试系统
0023-0065、 半导体器件试验装置及半导体器件试验系统
0087-0066、 IC实验装置
174-0067、 测量太阳能电池特性的测量装置和方法
033-0068、 用于减少检验测量的测量误差的方法和装置
113-0069、 在具有可变强度光栅扫描仪的数字示波器中低触发率采集的高可能性捕获
0088-0070、 采用串联比较电压测量的电压指示器
0043-0071、 电动车的漏电检测设备
0187-0072、 传感器
0001-0073、 磁场传感器
0004-0074、 用于获得标示多相电源网中出现故障的回路的信号的方法
214-0075、 高频信号测量装置
017-0076、 具有监视开关的监视装置
177-0077、 用于检测半导体器件测试设备操作错误的方法
142-0078、 检测和确定电力电网中高阻接地故障的方法
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0132-0081、 光栅化控制方法
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