光谱、光谱成像仪星、超光谱成像仪、光谱多边形及生产工艺技术
0052-0001、 光电检测器
摘要、 本发明涉及一种光电检测器，该光电检测器能够精确检测弱光并具有一个允许尺寸缩减的结构。在该光电管中，光电管从一个光接收面板一侧开始，经由一个固定到冷却装置的热吸收部分上的热传导支撑部件的支撑突起块被冷却装置的热吸收操作冷却。在这时，该光电管仅被固定到支撑突起块上，从而阻止热流穿过其他部件。这样，该光电表面通过该光接收面板被作为冷却源的冷却装置有效率地冷却下来，从而获得一个稳定的冷却温度。这就抑制了来自光电表面的热电子发射，并且因此充分抑制了光电管里噪声的产生。在这个状态下，通过外壳的光入射窗口传送来的待检测光经由该支撑突起块的孔径光阑被入射到该光电管的光电表面上，而从外壳发射的背景光被该孔径光阑周围的支撑突起块遮蔽掉而不会入射到该光电表面上。
0010-0002、 测量和控制光传输线路的功率损耗的系统以及相关方法
摘要、 一种动态测量光纤(2)的功率损耗的光学系统，光纤的入口端(E)用以接收光信号，而出口端(S)用于输送这些信号。该系统包括位于入口端(E)前端的调制装置(4)，用以通过低频调制信号调制光信号的幅度，前述低频调制信号的调制指数与光信号的输入功率(Pe)成反比，以及出口端(S)后端的检测装置(7)，用于从已调光信号中解析出第一信息，该第一信息表示调制信号的输出幅度，并根据该第一信息导出第二信息，该第二信息表示光纤中功率损耗的变化。
0136-0003、 凹面光栅光谱仪的多狭缝扫描式高速光谱采集装置
本发明提供了一种凹面光栅光谱仪的多狭缝扫描式高速光谱采集装置其包括光路上设置的反射镜、光栅、与转动桶随动的狭缝、光电倍增管，转动桶设有固定轴，并通过套设在转动桶和电机上的传动带与电机连动，光电倍增管位于转动桶外侧；反射镜为入射光反射镜，并安置在转动桶桶壁内侧的固定轴端面上；光栅为凹面光栅，其光谱面成像在罗兰圆上，光栅与狭缝和光电倍增管位于同一层面上；其具有结构设计紧凑，调试难度和制造成本较低，并且能达到在高速、高精度数据采集的情况下，获得高分辨率的宽光谱范围的数据采集结果，特别适合于采用差分吸收光谱法的空气微量污染物的长光程监测系统和污染源在线连续监测系统。
0117-0004、 双门控雪崩光电二极管单光子探测方法
摘要、 本发明涉及保密通讯类，具体的讲是涉及一种反向电压门与探测门分离的双门控雪崩光电二极管单光子探测方法该方法通过使用较宽的门偏压，使得门偏压前、后沿的微分信号和雪崩信号分离，即雪崩信号远离尖峰，因而在单光子探测时信号很容易被捕获，其优点是，门偏压与光子信号不重叠，雪崩信号远离门偏压前、后沿的尖峰，很容易捕获信号，对环境变化不敏感，工作稳定，成本低，对于光子到达时间有微小变化的情况下，只需扫描探测门，而无须改变APD脉冲偏压的工作频率，大大改善了工作稳定性。
0187-0005、 干涉型超光谱成像仪星上一次像面定标方法
摘要、 一种干涉型超光谱成像仪星上一次像面定标方法利用干涉型超光谱成像仪系统原理的特点，在一次像面上引入定标光源，在探测器像面上产生干涉图，实现星上相对定标。本发明解决了背景技术易产生机械故障，星上定标的可靠性低的技术问题。其定标光源引入点的位置及定标光源大小均可据系统结构的条件、探测器响应动态范围的要求选择，干涉图的强度高，系统可靠性亦较高。
0180-0006、 多壁碳纳米管束-金属异质结的光电传感器和成像仪探头
摘要、 多壁碳纳米管束—金属异质结的光电子传感器和成像仪探头，涉及一种光电子学器件及其应用。它是将具有宏观长度的多壁碳纳米管束的顶端与金属导电薄膜相连接，在连接处形成碳纳米管束—金属异质结，并从金属导电薄膜和碳纳米管束的另一端分别引出电极，构成基本的光电子传感器元件。将若干个光电子传感器排列成一维阵列或二维阵列，可分别构成线阵扫描式动态成像仪探头和面阵静态成像仪探头。工作时，用导线把两电极和电信号检测设备相连接构成回路，当有光束照射在异质结上时，回路中即可产生光致电流，当光强增加时，光致电流会增加，反之，光致电流会减小。本发明不仅结构简单，制作方便，而且其光电响应速度快，光电响应时间为毫秒量级。
0200-0007、 紫外光检测器
摘要、 本发明是关于一种紫外光检测器，其主要是将一高电阻率的氮化镓基础中间层导入元件结构中，由于其具有良好的绝缘特性，且与电极之间能够形成良好的肖基接触(Schottky contact)，因此可以大幅降低漏电流。其中，氮化镓基础中间层的材质例如为Al，x，In，y，Ga，1-x-y，N，其中x≥0，y≥01≥x+y。上述的氮化镓基础(GaN-based)中间层在制作上并不需经过磊晶后的高温热处理，故制程更形简单，且使得紫外光检测器能够具有绝佳的元件效能。
0140-0008、 包含信号匹配滤波的分光计
摘要、 本发明可提供一种对测试样本执行光谱分析的光学系统。此光学系统包括：一个用于发射电磁辐射的光子能源；一个光学发射处理装置；一个接收光光学处理装置；一个光学检测器；以及数字信号处理装置。光子能源发射电磁辐射，并且是由数字信号处理装置控制的。光学发射处理装置接收光子能源发出的电磁辐射并将一个或多个照射波长传送到测试样本，其中光学发射处理装置是由数字信号处理装置控制的。接收光光学处理装置收集和隔离所接收到的来自测试样本的电磁辐射的一个或多个波长并将所接收到的电磁辐射的隔离的一个或多个波长传送到一个光学检测器，其中所述接收光光学处理装置是由数字信号处理装置控制的。光学检测器感知所接收到的电磁辐射的一个或多个隔离的波长并将其转换成电信号。数字信号处理装置对从光学检测器接收到的电信号进行匹配滤波并且还控制光子能源、光学发射处理装置和接收光光学处理装置的功能。
0110-0009、 光纤连续激发显微荧光光谱成像仪
摘要、 本发明公开了一种光纤连续激发显微荧光光谱成像仪，包括在光路上依次连接的显微镜用自动线性可变单色照明装置、荧光显微镜、图像适配器和CCD摄像器件，在电路上通过数据线依次连接在所述CCD摄像器件与显微镜用自动线性可变单色照明装置之间的图像采集卡和计算机，以及在电路上通过数据线与所述计算机连接的图像显示器；显微镜用自动线性可变单色照明装置用于为荧光显微镜提供波长连续可调的单色激发光，由在光路上依次设置的光源、聚光系统、光谱单色器、透紫外纯石英光纤和光纤连接端面，以及功能控制器组成。本发明可找到试样上任何点的最佳激发波长，对具体对象获得定性、定量和定位分析结果；可在一台荧光显微镜上同时实现显微荧光图像分析和显微荧光光谱分析。
0141-0010、 脉冲检测与特性化的设备与方法
摘要、 光学，模拟，数字脉冲检测器接收输入信号并驱动受准直光束照射的布拉格光电管，布拉格光电管空间调制准直光束，出射时，布拉格光电管就由光学网络的透镜成像到隔光板平面。二元光板复制隔光板上的布拉格光电管图像。隔光板包含各种长度的缝隙，这些缝隙位于复制布拉格光电管图像的位置。为获取各图像在隔光板上的功率谱，合成透镜位于通过隔光板的光路中。通过合成透镜的光由一检测器阵列检测，该检测器阵列的输出端耦合至焦面处理器，后者将来自检测器阵列的模拟输出处理成初始调谐命令，用于检测与表征输入信号里的脉冲。
0055-0011、 手持红外摄像机
0044-0012、 强激光脉冲光强分布测试系统
0193-0013、 红外线阵列检测装置
050-0014、 消除光栅单色仪时间弥散的方法
067-0015、 小型封装分光传感器组件
0078-0016、 散射辐射连续观测记录仪
0042-0017、 同时监测强度调制和频率调制的光取样系统
0144-0018、 燃煤锅炉炉内三维温度场实时监测装置
053-0019、 微机电可调谐垂直腔光电器件及其制造方法
173-0020、 棉、毛纤维色度和长度的扫描式测试方法及系统
0109-0021、 一种测量空间光强分布用的反光镜
0093-0022、 一种用于遥感仪器光学系统光谱定标的自校准方法
046-0023、 基于可变滤波器的光学分光计
0129-0024、 双折射测量系统的精度校准
0091-0025、 一种基于宽带隙半导体传感器的火焰报警器
0056-0026、 带有气动传动防护屏的辐射探测仪及其使用方法
111-0027、 基于LED光源的光谱测量方法
153-0028、 氮化镓基可见，紫外双色光电探测器
0083-0029、 一种用于遥感仪器光谱定标的耦合四反射光学系统
0081-0030、 检测光信号波长的波长检测器及方法
027-0031、 用于被冷却产品的在线颜色测量系统
0183-0032、 棉、毛纤维色度和长度的摄像式测试方法及系统
0085-0033、 光谱测量仪
0172-0034、 宽范围氘灯背景校正系统
0015-0035、 具有降低的象素间的寄生热耦合的热释传感器
0073-0036、 熔融金属的测温装置和测温方法
206-0037、 在腔环降光谱法中用于控制光源的系统和方法
069-0038、 检测灯源制具
0012-0039、 能直接测量波长的新结构光电探测器及其探测方法
028-0040、 测量色度坐标的系统
0134-0041、 防止过度暴露于有害太阳辐射的危险的装置
088-0042、 一种光路对称分布的光栅衍射效率测试仪
0076-0043、 可调谐激光光谱二次谐波智能分析方法及实施装置
048-0044、 可调式光源装置
126-0045、 一种红外扫描监测回转窑筒体温度的方法
115-0046、 非接触式红外温度计及其定距控制方法
202-0047、 近红外脉冲波前干涉仪的系统误差标定系统及其方法
086-0048、 光纤束的辐射功率反馈传感器
0179-0049、 基于无序多壁碳纳米管的红外激光功率探测器
0203-0050、 光学分光计
0186-0051、 空间调制型干涉光谱成像仪星上定标方法
024-0052、 反射式非接触红外体温探测器
0036-0053、 一种对红外源热映象进行检测的方法
102-0054、 太阳差分像运动白日大气视宁度监测仪
0182-0055、 一种基于三维预测的高光谱图像无损压缩方法
189-0056、 光辐射传感器系统以及用于测量流体的辐射透射率的方法
019-0057、 用于辐射热测量计阵列的高吸收宽带像素
0061-0058、 掠入射平场谱仪
0037-0059、 具有暂态抑制的微辐射计阵列
0157-0060、 干涉型超光谱成像仪数据压缩方法
009-0061、 温度显示装置及温度监视系统
0092-0062、 微型集成化变折射率法-珀腔光谱探测器
0165-0063、 用于测试片的光学测量装置
034-0064、 为多层涂料的一层或多层选择配方的方法
013-0065、 光栅分光系统中滤除重叠光谱的数据处理方法
175-0066、 单光子探测装置的结构
0103-0067、 能探测光源多种物理性质的光电传感器
0135-0068、 印刷品上的彩条识别方法和彩色印刷品的质量管理系统
0138-0069、 单周期、亚周期光脉冲持续时间的相关器装置及测量方法
130-0070、 流体吸收线光谱强度的检测装置
150-0071、 透过手握方式进行量测的体温感测装置
094-0072、 基于光谱多边形的相似性度量方法
062-0073、 基于半导体致冷器的光功率计
0095-0074、 非线性光谱相似性度量方法
003-0075、 光谱检测设备
0058-0076、 数字控制式热电感测信号取样电路
0113-0077、 带有电荷耦合器件检测器的发射光谱仪
0170-0078、 白光双视场波面测量仪
0188-0079、 干涉型超光谱成像仪星上自聚焦镜定标系统
0197-0080、 光检测装置
162-0081、 基于微棱镜阵列的脉冲光光束质量检测哈特曼波前传感器
0057-0082、 亮度测定装置和测定方法
120-0083、 无源分光检偏器
0089-0084、 透镜衍射波面测量仪
0022-0085、 紫外氘灯光源的脉冲调制方法及其装置
159-0086、 改良的实时测角分光光度计
0167-0087、 快响应宽光谱脉冲光激光能量计
0040-0088、 光学检测设备
0155-0089、 光栅光谱仪器高级次叠加光谱的分离方法
174-0090、 主动式面扫描测温仪
0021-0091、 宽角度宽光谱的偏振分束膜特性的测量装置
066-0092、 具有隔膜的传感器以及制作它的方法
147-0093、 飞秒激光器空间相干性测试装置
201-0094、 配色方法
149-0095、 色度计
0099-0096、 一种梳状滤波谱光模块的自动测试装置和方法
205-0097、 紫外线检测器
0084-0098、 光谱测量方法和执行所述方法的装置(诸多变型)
0079-0099、 红外线干涉膜滤光镜
0192-0100、 具有从动监视器的红外摄像机
0119-0101、 一种红外线检测电路以及红外线检测器
0185-0102、 基于光波导分光原理的小型高灵敏度光谱成像方法及设备
0128-0103、 啁啾脉冲纵向衍射干涉仪
0145-0104、 双环路二维剪切干涉检测装置
038-0105、 利用用于实时气体取样的等离子源的方法和装置
146-0106、 双色场X射线交叉相关测量仪
0194-0107、 用于改善电光混合装置进行中的测量质量的方法和装置
164-0108、 波长监测器
0030-0109、 光学部件、使用该部件的光检测装置和方法、及分析方法
020-0110、 重量轻的红外照相机
0108-0111、 飞秒级超短光脉冲测量方法及装置
199-0112、 测定激光束光斑特性的方法和设备
0087-0113、 用于监测杀菌波长的能量的紫外线传感器
0059-0114、 离子存储实验系统控制仪
0039-0115、 红外线传感器
0096-0116、 红外线热成像图像及可见光图像复合视频实时显控装置
156-0117、 干涉型超光谱成像仪数据处理方法
007-0118、 一种用于分布光度测量的激光瞄准器
0098-0119、 光纤光栅群时延谱的差动干涉测量装置及其测量方法
043-0120、 锅炉烟道烟气温度的测量方法及测量系统
0080-0121、 带有温度传感器的制冷装置
176-0122、 采用时分复用检测方案的光谱功率监视器
0154-0123、 共靶X射线时空分辨摄谱方法及其谱仪
0065-0124、 释光光子分频谱仪
0071-0125、 微机械热电堆红外探测器及其制造方法
001-0126、 精密测量超短激光脉冲时间同步的装置
075-0127、 斜程有限距离上大气相干长度的测量装置及其方法
106-0128、 双光谱图像检测仪
0131-0129、 一种参与性介质遮蔽高温表面的辐射测温方法
097-0130、 一种开关触头监视装置
008-0131、 红外检测元件、制造这种元件的方法及温度测量装置
041-0132、 在高分辨率测量系统中测量波长变化的方法和设备
0045-0133、 利用偏最小二乘法探测终点的方法和设备
0033-0134、 超环面镜的调节方法及其专用调节装置
063-0135、 分光装置和分光方法
158-0136、 光源装置、使用该装置的分析仪和控制光源装置的方法
178-0137、 用于增强对痕量物质进行光谱测量的光纤谐振器中的瞬逝场暴露的方法和装置
004-0138、 具有多色发光二极管阵列的光源
0125-0139、 荧光检测仪
0171-0140、 一种远场激光能量，功率的测量系统及其测量方法
168-0141、 一种判断环境亮度的方法
025-0142、 自适应辐射测温技术
047-0143、 光检测器，光检测方法及存储介质
0060-0144、 双独立调谐飞秒分辨泵浦-探测光谱仪芯
0018-0145、 视觉类型辨色检验方法及器材
0124-0146、 一种激光强度调节装置
184-0147、 红外序列图像历史趋势分析方法
148-0148、 多功能实时光谱位相相干仪
0101-0149、 微桥结构
0016-0150、 光子相关器
0026-0151、 传感器输出的修正方法
118-0152、 高温计
0014-0153、 原子斯塔克啁啾绝热跟随相干态的高效探测装置
032-0154、 半导体激光器的检测装置和方法及相干光源检测方法
105-0155、 基于SAGNAC干涉仪的光纤温度传感方法及其传感器
0082-0156、 微分数值孔径方法及装置
116-0157、 白光双视场剪切波面干涉仪
0160-0158、 剂量辐射计
0054-0159、 颜色管理系统
0064-0160、 具有增强灵敏度和可兼容视频接口的纵向颜色光检测器
0163-0161、 测量温度和热处理的方法及系统
0196-0162、 光检测传感器
0031-0163、 快速多目标红外实时图像温度自动跟踪监测系统
0143-0164、 时间分辨光谱的测量方法及测量装置
011-0165、 辐射线探测器
0142-0166、 成像光谱仪的像面检校结构
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0195-0177、 光探测器
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0207-0207、 磁悬浮辐射计
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摘要、 本发明涉及一种光电检测器，该光电检测器能够精确检测弱光并具有一个允许尺寸缩减的结构。在该光电管中，光电管从一个光接收面板一侧开始，经由一个固定到冷却装置的热吸收部分上的热传导支撑部件的支撑突起块被冷却装置的热吸收操作冷却。在这时，该光电管仅被固定到支撑突起块上，从而阻止热流穿过其他部件。这样，该光电表面通过该光接收面板被作为冷却源的冷却装置有效率地冷却下来，从而获得一个稳定的冷却温度。这就抑制了来自光电表面的热电子发射，并且因此充分抑制了光电管里噪声的产生。在这个状态下，通过外壳的光入射窗口传送来的待检测光经由该支撑突起块的孔径光阑被入射到该光电管的光电表面上，而从外壳发射的背景光被该孔径光阑周围的支撑突起块遮蔽掉而不会入射到该光电表面上。
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摘要、 一种动态测量光纤(2)的功率损耗的光学系统，光纤的入口端(E)用以接收光信号，而出口端(S)用于输送这些信号。该系统包括位于入口端(E)前端的调制装置(4)，用以通过低频调制信号调制光信号的幅度，前述低频调制信号的调制指数与光信号的输入功率(Pe)成反比，以及出口端(S)后端的检测装置(7)，用于从已调光信号中解析出第一信息，该第一信息表示调制信号的输出幅度，并根据该第一信息导出第二信息，该第二信息表示光纤中功率损耗的变化。
0136-0003、 凹面光栅光谱仪的多狭缝扫描式高速光谱采集装置
本发明提供了一种凹面光栅光谱仪的多狭缝扫描式高速光谱采集装置其包括光路上设置的反射镜、光栅、与转动桶随动的狭缝、光电倍增管，转动桶设有固定轴，并通过套设在转动桶和电机上的传动带与电机连动，光电倍增管位于转动桶外侧；反射镜为入射光反射镜，并安置在转动桶桶壁内侧的固定轴端面上；光栅为凹面光栅，其光谱面成像在罗兰圆上，光栅与狭缝和光电倍增管位于同一层面上；其具有结构设计紧凑，调试难度和制造成本较低，并且能达到在高速、高精度数据采集的情况下，获得高分辨率的宽光谱范围的数据采集结果，特别适合于采用差分吸收光谱法的空气微量污染物的长光程监测系统和污染源在线连续监测系统。
0117-0004、 双门控雪崩光电二极管单光子探测方法
摘要、 本发明涉及保密通讯类，具体的讲是涉及一种反向电压门与探测门分离的双门控雪崩光电二极管单光子探测方法该方法通过使用较宽的门偏压，使得门偏压前、后沿的微分信号和雪崩信号分离，即雪崩信号远离尖峰，因而在单光子探测时信号很容易被捕获，其优点是，门偏压与光子信号不重叠，雪崩信号远离门偏压前、后沿的尖峰，很容易捕获信号，对环境变化不敏感，工作稳定，成本低，对于光子到达时间有微小变化的情况下，只需扫描探测门，而无须改变APD脉冲偏压的工作频率，大大改善了工作稳定性。
0187-0005、 干涉型超光谱成像仪星上一次像面定标方法
摘要、 一种干涉型超光谱成像仪星上一次像面定标方法利用干涉型超光谱成像仪系统原理的特点，在一次像面上引入定标光源，在探测器像面上产生干涉图，实现星上相对定标。本发明解决了背景技术易产生机械故障，星上定标的可靠性低的技术问题。其定标光源引入点的位置及定标光源大小均可据系统结构的条件、探测器响应动态范围的要求选择，干涉图的强度高，系统可靠性亦较高。
0180-0006、 多壁碳纳米管束-金属异质结的光电传感器和成像仪探头
摘要、 多壁碳纳米管束—金属异质结的光电子传感器和成像仪探头，涉及一种光电子学器件及其应用。它是将具有宏观长度的多壁碳纳米管束的顶端与金属导电薄膜相连接，在连接处形成碳纳米管束—金属异质结，并从金属导电薄膜和碳纳米管束的另一端分别引出电极，构成基本的光电子传感器元件。将若干个光电子传感器排列成一维阵列或二维阵列，可分别构成线阵扫描式动态成像仪探头和面阵静态成像仪探头。工作时，用导线把两电极和电信号检测设备相连接构成回路，当有光束照射在异质结上时，回路中即可产生光致电流，当光强增加时，光致电流会增加，反之，光致电流会减小。本发明不仅结构简单，制作方便，而且其光电响应速度快，光电响应时间为毫秒量级。
0200-0007、 紫外光检测器
摘要、 本发明是关于一种紫外光检测器，其主要是将一高电阻率的氮化镓基础中间层导入元件结构中，由于其具有良好的绝缘特性，且与电极之间能够形成良好的肖基接触(Schottky contact)，因此可以大幅降低漏电流。其中，氮化镓基础中间层的材质例如为Al，x，In，y，Ga，1-x-y，N，其中x≥0，y≥01≥x+y。上述的氮化镓基础(GaN-based)中间层在制作上并不需经过磊晶后的高温热处理，故制程更形简单，且使得紫外光检测器能够具有绝佳的元件效能。
0140-0008、 包含信号匹配滤波的分光计
摘要、 本发明可提供一种对测试样本执行光谱分析的光学系统。此光学系统包括：一个用于发射电磁辐射的光子能源；一个光学发射处理装置；一个接收光光学处理装置；一个光学检测器；以及数字信号处理装置。光子能源发射电磁辐射，并且是由数字信号处理装置控制的。光学发射处理装置接收光子能源发出的电磁辐射并将一个或多个照射波长传送到测试样本，其中光学发射处理装置是由数字信号处理装置控制的。接收光光学处理装置收集和隔离所接收到的来自测试样本的电磁辐射的一个或多个波长并将所接收到的电磁辐射的隔离的一个或多个波长传送到一个光学检测器，其中所述接收光光学处理装置是由数字信号处理装置控制的。光学检测器感知所接收到的电磁辐射的一个或多个隔离的波长并将其转换成电信号。数字信号处理装置对从光学检测器接收到的电信号进行匹配滤波并且还控制光子能源、光学发射处理装置和接收光光学处理装置的功能。
0110-0009、 光纤连续激发显微荧光光谱成像仪
摘要、 本发明公开了一种光纤连续激发显微荧光光谱成像仪，包括在光路上依次连接的显微镜用自动线性可变单色照明装置、荧光显微镜、图像适配器和CCD摄像器件，在电路上通过数据线依次连接在所述CCD摄像器件与显微镜用自动线性可变单色照明装置之间的图像采集卡和计算机，以及在电路上通过数据线与所述计算机连接的图像显示器；显微镜用自动线性可变单色照明装置用于为荧光显微镜提供波长连续可调的单色激发光，由在光路上依次设置的光源、聚光系统、光谱单色器、透紫外纯石英光纤和光纤连接端面，以及功能控制器组成。本发明可找到试样上任何点的最佳激发波长，对具体对象获得定性、定量和定位分析结果；可在一台荧光显微镜上同时实现显微荧光图像分析和显微荧光光谱分析。
0141-0010、 脉冲检测与特性化的设备与方法
摘要、 光学，模拟，数字脉冲检测器接收输入信号并驱动受准直光束照射的布拉格光电管，布拉格光电管空间调制准直光束，出射时，布拉格光电管就由光学网络的透镜成像到隔光板平面。二元光板复制隔光板上的布拉格光电管图像。隔光板包含各种长度的缝隙，这些缝隙位于复制布拉格光电管图像的位置。为获取各图像在隔光板上的功率谱，合成透镜位于通过隔光板的光路中。通过合成透镜的光由一检测器阵列检测，该检测器阵列的输出端耦合至焦面处理器，后者将来自检测器阵列的模拟输出处理成初始调谐命令，用于检测与表征输入信号里的脉冲。
0055-0011、 手持红外摄像机
0044-0012、 强激光脉冲光强分布测试系统
0193-0013、 红外线阵列检测装置
050-0014、 消除光栅单色仪时间弥散的方法
067-0015、 小型封装分光传感器组件
0078-0016、 散射辐射连续观测记录仪
0042-0017、 同时监测强度调制和频率调制的光取样系统
0144-0018、 燃煤锅炉炉内三维温度场实时监测装置
053-0019、 微机电可调谐垂直腔光电器件及其制造方法
173-0020、 棉、毛纤维色度和长度的扫描式测试方法及系统
0109-0021、 一种测量空间光强分布用的反光镜
0093-0022、 一种用于遥感仪器光学系统光谱定标的自校准方法
046-0023、 基于可变滤波器的光学分光计
0129-0024、 双折射测量系统的精度校准
0091-0025、 一种基于宽带隙半导体传感器的火焰报警器
0056-0026、 带有气动传动防护屏的辐射探测仪及其使用方法
111-0027、 基于LED光源的光谱测量方法
153-0028、 氮化镓基可见，紫外双色光电探测器
0083-0029、 一种用于遥感仪器光谱定标的耦合四反射光学系统
0081-0030、 检测光信号波长的波长检测器及方法
027-0031、 用于被冷却产品的在线颜色测量系统
0183-0032、 棉、毛纤维色度和长度的摄像式测试方法及系统
0085-0033、 光谱测量仪
0172-0034、 宽范围氘灯背景校正系统
0015-0035、 具有降低的象素间的寄生热耦合的热释传感器
0073-0036、 熔融金属的测温装置和测温方法
206-0037、 在腔环降光谱法中用于控制光源的系统和方法
069-0038、 检测灯源制具
0012-0039、 能直接测量波长的新结构光电探测器及其探测方法
028-0040、 测量色度坐标的系统
0134-0041、 防止过度暴露于有害太阳辐射的危险的装置
088-0042、 一种光路对称分布的光栅衍射效率测试仪
0076-0043、 可调谐激光光谱二次谐波智能分析方法及实施装置
048-0044、 可调式光源装置
126-0045、 一种红外扫描监测回转窑筒体温度的方法
115-0046、 非接触式红外温度计及其定距控制方法
202-0047、 近红外脉冲波前干涉仪的系统误差标定系统及其方法
086-0048、 光纤束的辐射功率反馈传感器
0179-0049、 基于无序多壁碳纳米管的红外激光功率探测器
0203-0050、 光学分光计
0186-0051、 空间调制型干涉光谱成像仪星上定标方法
024-0052、 反射式非接触红外体温探测器
0036-0053、 一种对红外源热映象进行检测的方法
102-0054、 太阳差分像运动白日大气视宁度监测仪
0182-0055、 一种基于三维预测的高光谱图像无损压缩方法
189-0056、 光辐射传感器系统以及用于测量流体的辐射透射率的方法
019-0057、 用于辐射热测量计阵列的高吸收宽带像素
0061-0058、 掠入射平场谱仪
0037-0059、 具有暂态抑制的微辐射计阵列
0157-0060、 干涉型超光谱成像仪数据压缩方法
009-0061、 温度显示装置及温度监视系统
0092-0062、 微型集成化变折射率法-珀腔光谱探测器
0165-0063、 用于测试片的光学测量装置
034-0064、 为多层涂料的一层或多层选择配方的方法
013-0065、 光栅分光系统中滤除重叠光谱的数据处理方法
175-0066、 单光子探测装置的结构
0103-0067、 能探测光源多种物理性质的光电传感器
0135-0068、 印刷品上的彩条识别方法和彩色印刷品的质量管理系统
0138-0069、 单周期、亚周期光脉冲持续时间的相关器装置及测量方法
130-0070、 流体吸收线光谱强度的检测装置
150-0071、 透过手握方式进行量测的体温感测装置
094-0072、 基于光谱多边形的相似性度量方法
062-0073、 基于半导体致冷器的光功率计
0095-0074、 非线性光谱相似性度量方法
003-0075、 光谱检测设备
0058-0076、 数字控制式热电感测信号取样电路
0113-0077、 带有电荷耦合器件检测器的发射光谱仪
0170-0078、 白光双视场波面测量仪
0188-0079、 干涉型超光谱成像仪星上自聚焦镜定标系统
0197-0080、 光检测装置
162-0081、 基于微棱镜阵列的脉冲光光束质量检测哈特曼波前传感器
0057-0082、 亮度测定装置和测定方法
120-0083、 无源分光检偏器
0089-0084、 透镜衍射波面测量仪
0022-0085、 紫外氘灯光源的脉冲调制方法及其装置
159-0086、 改良的实时测角分光光度计
0167-0087、 快响应宽光谱脉冲光激光能量计
0040-0088、 光学检测设备
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174-0090、 主动式面扫描测温仪
0021-0091、 宽角度宽光谱的偏振分束膜特性的测量装置
066-0092、 具有隔膜的传感器以及制作它的方法
147-0093、 飞秒激光器空间相干性测试装置
201-0094、 配色方法
149-0095、 色度计
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0084-0098、 光谱测量方法和执行所述方法的装置(诸多变型)
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0192-0100、 具有从动监视器的红外摄像机
0119-0101、 一种红外线检测电路以及红外线检测器
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146-0106、 双色场X射线交叉相关测量仪
0194-0107、 用于改善电光混合装置进行中的测量质量的方法和装置
164-0108、 波长监测器
0030-0109、 光学部件、使用该部件的光检测装置和方法、及分析方法
020-0110、 重量轻的红外照相机
0108-0111、 飞秒级超短光脉冲测量方法及装置
199-0112、 测定激光束光斑特性的方法和设备
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0059-0114、 离子存储实验系统控制仪
0039-0115、 红外线传感器
0096-0116、 红外线热成像图像及可见光图像复合视频实时显控装置
156-0117、 干涉型超光谱成像仪数据处理方法
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008-0131、 红外检测元件、制造这种元件的方法及温度测量装置
041-0132、 在高分辨率测量系统中测量波长变化的方法和设备
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063-0135、 分光装置和分光方法
158-0136、 光源装置、使用该装置的分析仪和控制光源装置的方法
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0125-0139、 荧光检测仪
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025-0142、 自适应辐射测温技术
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