基板探针工艺生产工艺及应用
(CD30130-0053-0001)一种TFT-LCD基板检测设备中探针结构
(CD30130-0009-0002)测试用探针基板及其制造方法
(CD30130-0044-0003)探针板、使用其的检查方法及由该方法检查的半导体装置
(CD30130-0032-0004)连接单元、被测量组件搭载板、探针卡以及组件接口部
(CD30130-0026-0005)带有标准探针的DNA微阵列以及包含该阵列的试剂盒
(CD30130-0042-0006)导线连线式圆形探针卡基板
(CD30130-0065-0007)探针卡
(CD30130-0014-0008)具有层叠基板的探针卡
(CD30130-0073-0009)一种检测探针结构
(CD30130-0025-0010)具有晶片级弹簧的探针卡总成和封装的构造结构及制造方法
(CD30130-0037-0011)电探针系统
(CD30130-0001-0012)LCD检查用探针卡
(CD30130-0059-0013)多部位探测的探针头模组
(CD30130-0030-0014)接触探针
(CD30130-0075-0015)晶圆探针卡的结构
(CD30130-0008-0016)可适探针装置
(CD30130-0064-0017)探针卡
(CD30130-0038-0018)包含光学测距仪的探针装置以及探针的检查方法
(CD30130-0046-0019)探针卡及微小结构体的检查装置
(CD30130-0034-0020)电子机器、光学屏、检查探针、光学屏检查装置、光学屏的检查方法
(CD30130-0011-0021)探针阵列以及探针阵列的制造方法
(CD30130-0020-0022)用于集成电路测试的纳米管探针结构
(CD30130-0021-0023)印制电路板程控探针定位装置
(CD30130-0019-0024)探针卡
(CD30130-0023-0025)探针卡及探针卡的制造方法
(CD30130-0060-0026)圆极化宽频带电容补偿探针馈电叠层微带天线阵
(CD30130-0067-0027)探针组合体
(CD30130-0063-0028)探针卡
(CD30130-0036-0029)接触探针
(CD30130-0048-0030)生物芯片的制造方法、探针溶液和生物芯片
(CD30130-0078-0031)悬臂探针与垂直探针共享的测试接口板
(CD30130-0013-0032)具有多层弹性的微机电探针卡
(CD30130-0016-0033)测试用探针卡及其制造方法
(CD30130-0018-0034)固定有探针的载体的制备方法
(CD30130-0058-0035)合金探针的微机电制造方法
(CD30130-0031-0036)高导电纳米薄膜式探针卡的制造方法
(CD30130-0052-0037)探针卡
(CD30130-0035-0038)探针头和制造该探针头的方法
(CD30130-0022-0039)垂直式探针界面板
(CD30130-0077-0040)探针工作台装置
(CD30130-0010-0041)探针卡基板
(CD30130-0024-0042)用于清洗测试探针的设备和方法
(CD30130-0051-0043)探针片粘贴架、探针卡、半导体检测装置及其制造方法
(CD30130-0061-0044)探针卡
(CD30130-0055-0045)探针卡
(CD30130-0049-0046)探针
(CD30130-0005-0047)探针卡及使用这种卡的试验装置
(CD30130-0047-0048)成排弹性探针及其制造方法
(CD30130-0027-0049)各向异性导电薄板及阻抗测定用探针
(CD30130-0074-0050)晶圆探针卡的电性连接结构
(CD30130-0012-0051)测试用探针基板及其制造方法
(CD30130-0033-0052)检查探针、光学屏的检查装置、光学屏的检查方法
(CD30130-0040-0053)制造具有电阻尖端的半导体探针的方法
(CD30130-0041-0054)薄膜式晶圆测试装置暨其探针感测传输结构
(CD30130-0045-0055)探针板的底板、检查装置、光制造装置及光制造方法
(CD30130-0050-0056)液晶显示面板及测试其的探针
(CD30130-0068-0057)探针卡、半导体检验装置以及半导体装置的制造方法
(CD30130-0004-0058)微探针制造方法
(CD30130-0043-0059)导线连线式圆形探针卡基板
(CD30130-0002-0060)晶圆级探针卡及其制造方法
(CD30130-0062-0061)探针卡及其组合装配方法
(CD30130-0003-0062)晶圆级测试卡的探针构造及其制造方法
(CD30130-0054-0063)用于测试大面积基板上电子器件的探针
(CD30130-0017-0064)制造探针卡的方法及装置
(CD30130-0039-0065)a01"，200510092308.4
(CD30130-0056-0066)探针卡的制造方法
(CD30130-0006-0067)半导体芯片装配用基板的检查用探针单元
(CD30130-0007-0068)测试具有许多半导体器件的晶片的探针卡和方法
(CD30130-0028-0069)探针基板及其制造方法
(CD30130-0076-0070)晶圆探针卡的探测头结构
(CD30130-0070-0071)空间变换器及其制造方法以及具有此空间变换器的探针板
(CD30130-0015-0072)具有介电结构的探针卡组件
(CD30130-0071-0073)接触探针
(CD30130-0069-0074)结合探针的方法以及使用该方法制造探针卡的方法
(CD30130-0029-0075)探针的制造方法及探测卡的制造方法
(CD30130-0072-0076)一种印刷电路板检测探针配置装置
(CD30130-0057-0077)垂直式探针头、探针头制造方法以及模组化探针卡
(CD30130-0066-0078)晶片检查用电路基板装置、探针卡和晶片检查装置
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(CD30130-0032-0004)连接单元、被测量组件搭载板、探针卡以及组件接口部
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(CD30130-0022-0039)垂直式探针界面板
(CD30130-0077-0040)探针工作台装置
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