扫描探针类工艺生产工艺及应用
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(CD33517-0027-0002)介电损耗扫描探针显微镜及其测量方法
(CD33517-0070-0003)双探针同点测量扫描探针显微镜
(CD33517-0008-0004)用于扫描探针显微镜的热沉型低温生物样品平台
(CD33517-0065-0005)用于扫描探针显微镜的螺旋式扫描方法
(CD33517-0023-0006)扫描探针显微镜中压电执行器模型参数标定和非线性校正方法
(CD33517-0019-0007)用于扫描探针显微镜的可升温样品平台
(CD33517-0046-0008)扫描探针显微镜、使用其的试样观察方法及装置制造方法
(CD33517-0026-0009)扫描探针显微镜及扫描方法
(CD33517-0038-0010)用于检测和鉴定分子结构的扫描探针显微图像基于模型的融合
(CD33517-0044-0011)扫描探针显微镜
(CD33517-0039-0012)用于扫描探针显微镜的薄膜断面定位方法
(CD33517-0051-0013)扫描探针显微镜的数字闭环扫描控制系统
(CD33517-0012-0014)扫描探针显微镜的智能针尖连接结构
(CD33517-0013-0015)扫描探针显微镜上的观察装置
(CD33517-0035-0016)扫描探针显微镜
(CD33517-0036-0017)一种用于扫描探针显微镜的金薄膜基底制作方法
(CD33517-0045-0018)用于扫描探针显微镜并且带动探针扫描的扫描器
(CD33517-0016-0019)一种用于扫描探针显微镜的针尖与样品间距调节装置
(CD33517-0048-0020)微结构、悬臂、扫描探针显微镜以及用于测量微结构的形变量的方法
(CD33517-0025-0021)一种扫描探针显微镜探针驱动装置
(CD33517-0059-0022)一种扫描探针显微镜三维校准用胶体球标样的制备方法
(CD33517-0021-0023)一种用于扫描探针显微镜的压电陶瓷扫描器
(CD33517-0062-0024)扫描速度恒定的扫描探针
(CD33517-0042-0025)扫描探针显微镜微型镜盒
(CD33517-0004-0026)利用扫描探针显微镜针尖的方法及其产品或产品的制作方法
(CD33517-0061-0027)一种测量扫描探针显微镜导电针尖的特征电容的方法
(CD33517-0058-0028)扫描探针显微镜压电扫描管的X-Y二维平面扫描驱动系统
(CD33517-0017-0029)计量型扫描探针显微镜
(CD33517-0063-0030)基于脉冲管制冷技术的低温扫描探针显微镜系统
(CD33517-0015-0031)密封型扫描探针显微镜扫描器
(CD33517-0018-0032)用于扫描探针显微镜的热沉型低温生物样品平台
(CD33517-0007-0033)利用扫描探针显微镜针尖的方法及其产品或产品的制作方法
(CD33517-0002-0034)一种扫描探针显微镜压电扫描器的电压配置方式
(CD33517-0060-0035)具有恒定接触力的振动扫描探针
(CD33517-0069-0036)液体中扫描探针显微镜探针灵敏度提升装置
(CD33517-0010-0037)用于扫描探针显微装置上的观察显微镜
(CD33517-0001-0038)扫描探针显微镜
(CD33517-0034-0039)使用扫描探针技术局部高分辨率的质谱仪表征表面的方法
(CD33517-0057-0040)纳米镊子和带有纳米镊子的扫描探针显微镜
(CD33517-0056-0041)用于扫描探针显微镜的装置和方法
(CD33517-0067-0042)扫描探针显微镜微型镜盒
(CD33517-0043-0043)扫描探针显微镜传感器
(CD33517-0009-0044)用于扫描探针显微镜的可升温样品平台
(CD33517-0066-0045)一种扫描探针显微镜的高精度测量方法
(CD33517-0040-0046)基于纳米扫描探针形变的微作用力建模方法
(CD33517-0031-0047)扫描探针显微镜
(CD33517-0054-0048)振动型悬臂支架和扫描探针显微镜
(CD33517-0050-0049)扫描探针显微镜的全数字控制方法及系统
(CD33517-0068-0050)模块化扫描探针显微镜
(CD33517-0047-0051)模块化扫描探针显微镜
(CD33517-0028-0052)扫描探针相变存储方法及其装置
(CD33517-0014-0053)扫描探针显微镜立式探头
(CD33517-0029-0054)用于扫描探针显微镜检查的微调机构
(CD33517-0020-0055)一种用于扫描探针显微镜的调距装置
(CD33517-0053-0056)一种扫描探针声学显微成像用低频、收发两用型传感器
(CD33517-0030-0057)多个扫描探针的软件同步
(CD33517-0006-0058)扫描探针显微镜样品定位方法
(CD33517-0032-0059)编码可被扫描探针显微镜术(SPM)读取的特定信息的纳米条形码的可控排列
(CD33517-0037-0060)扫描探针检查设备
(CD33517-0022-0061)列阵式扫描探针电导率测定仪
(CD33517-0033-0062)编码可被扫描探针显微镜术(SPM)读取的特定信息的纳米条形码的可控排列
(CD33517-0003-0063)扫描探针显微镜探针及其制造方法具有该探针的扫描探针显微镜以及使用其的分子加工法
(CD33517-0055-0064)使用离子束制造扫描探针显微镜和临界尺寸扫描探针显微镜纳米针探针的方法与由其制造的扫描探针显微镜和临界尺寸扫描探针显微镜纳米针探针
(CD33517-0064-0065)使用样品间距的扫描探针显微镜方法和装置
(CD33517-0041-0066)用表面驱动激励器定位扫描探针针尖的扫描探针显微镜
(CD33517-0049-0067)基于扫描探针显微镜的低价位触觉交互接口的实现方法
(CD33517-0052-0068)用于使用扫描探针显微镜术和纳代码检测核酸的方法和组合物
(CD33517-0005-0069)在扫描探针显微镜悬臂及其针尖上沉积薄膜的方法
(CD33517-0024-0070)具有增强电子云作用的扫描探针及扫描隧道显微镜
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